輪廓測量儀 SV-C3100 三豐

• 更新日期：2024-04-04

產品簡介：
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌

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        蘇州勒豐精密儀器有限公司（德日維修部）專業從事日本三豐，德國馬爾等品牌，以“質量*”為宗旨，向范圍的廣大市場提供千分尺，卡尺等量具；三坐標測量機，形狀測量系統，視像測量系統，光學儀器等系統精密測量儀以及專業維修服務中心。公司技術力量雄厚，多名工程師都是來自世界*的量具生產企業，配件采用日本*，計量試驗室儀器都是進口測量儀器，為客戶解決維修后精度不良的后顧之憂，品質服務由計量質量檢測部門支持并出具相關維修產品的檢測報告，并與日本三豐“Mitutoyo”總代理建立有長期穩定的合作關系。是大陸地區*的量具量儀銷售及維修服務商之一。

詳細介紹
Formtracer（表面粗糙度/輪廓測量裝置）SV-C3100/SV-C4100 

簡單介紹 
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度（X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s） 進一步減少了總的測量時間。
為了更長時間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌；驅動器 （X 軸） 和立柱 （Z2 軸） 均配備了高精度線形編碼器 （其中Z2 軸上為ABS 型）。因此，在垂直方向對小孔連續自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。 

特長：
本機為電動型支柱，觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復合機。
輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學尺（SV-C4100）、反射型光學尺（SV-C3100）。
表面粗度量測用Z軸檢出裝置，可對應ISO/新JIS。
檢出器的滑動部為2段式，可提升檢出器交換時的操作性。
資料處理軟體，可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價解析。
資料處理裝置的通訊系統使用RS-232C。 

表面粗糙度測量

直線度:±（0.05+0.001L）μm*于需要高精度測量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L為驅動長度（mm）

符合JIS’82/’94/’01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的標準。

標準配置：高精度測頭（0.75mN/4mN測力），分辨率高至0.0001μm。

 

自動測量

在與CNC機型配套使用的眾多外設選件的支持下，可實現自動測量。

 

輪廓驅動測量

X軸精度:±（0.8+0.01L）μm*Z1軸精度:±（0.8+I0.5HI/25）μm*于需要高精度測量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L為驅動長度,H為測量高度（mm）

SV-C4100系列的輪廓驅動器配備了激光全息測微計測頭，Z1軸寬／窄范圍均能達到*的精度和分辨率。

 

基本技術參數:

基座尺寸（H）:750x600mm或1000x450mm

基座材料:花崗巖

重量

　主機:140kg（S4）,150kg（H4）,220kg（W4）

140kg（S8）,150kg（H8）,220kg（W8）

　控制器:14kg

　遙控箱:0.9kg

電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W（主機）